Elektromagnetische Abschirmbeschichtungen dienen als zentrale Schutzmaterialien für 5G-Kommunikation, Präzisionselektronik und Geräte der neuen Energietechnologie. Mit ihren ultradünnen Profilen, ihrer hervorragenden Abschirmwirkung und ihrer breiten Kompatibilität blockieren sie elektromagnetische Störungen effektiv und verhindern Signalverluste, wodurch ein stabiler Betrieb der Elektronik unter komplexen elektromagnetischen Bedingungen gewährleistet wird. Sie sind heute die vorherrschende leichte Lösung zur elektromagnetischen Abschirmung.
Die metallografische Schnittbearbeitung ist die entscheidende Prüfmethode zur Analyse der Qualität von Abschirmbeschichtungen. Nach standardisierten Probenherstellungsverfahren – einschließlich Probennahme, Einbetten, Schleifen und Polieren – können wir die Gleichmäßigkeit der Beschichtungsdicke im Querschnitt sowie die Haftbedingungen an den Grenzflächen visuell begutachten.
Die metallografische Prüfung ermöglicht eine präzise Bewertung der Beschichtungsqualität, stellt einen Zusammenhang zwischen der Abschirmleistung und der Lebensdauer her, unterstützt F&E-Teams bei der Optimierung der Formulierungen und hilft, Prozessabweichungen in der Massenproduktion zu kontrollieren. Sie liefert wichtige Daten, um die Zuverlässigkeit und Stabilität elektromagnetischer Abschirmprodukte sicherzustellen.
Nachfolgend finden Sie den Arbeitsablauf zur Vorbereitung metallografischer Proben für die Querschnittsanalyse elektromagnetischer Abschirmmaterialien als Referenz:
1️⃣ Grobschleifen mit Schleifpapier P800, um die Oberfläche zu ebnen
2️⃣ Feinschleifen mit Schleifpapieren P2000 und P4000
3️⃣ Polieren mit dem ET-JP-Poliertuch unter Verwendung einer 0,05 μm AO-W-Aluminiumoxid-Suspension
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