Leica DM 2700M Microscoop Fabrikanten

Home
Optische analyse
Leica-microscoop

Leica DM 2700M microscoop

Leica DM 2700M Microscope Product Description Leica DM2700 M flexible positive microscope system USES LED lighting in all contrast methods: bright field (BF), dark field (DF), differential interference difference (DIC), qualitative polarization (POL) or fluorescence (FLUO) applications. It also provides built-in tilting illumination, which can improve the visualization of surface topography and defects. Leica DM2700 M can also be used to assemble the transmission axis according to the situation. Three types of microscope objective rotors are available – plus a 0.7x macro objective through which you can see a sample almost 40mm long. It is ideal for quick positioning and overview. A complete line of leica microscope platforms can be used to find an ideal platform for inspection of specimens up to 100 x100mm in size (such as foil, wafer, and PCB) and 80mm thick (such as mechanical components).

E-mail: international@trojanchina.com

Toepassingen

(1) Controleer de elektronische componenten

Om te voldoen aan de vereisten van snelle en nauwkeurige inspectie, programmacontrole en defectanalyse van siliciumwafers of MEMS, biedt de leica DM2700 M een hoge optische resolutie die zelfs de meest subtiele defecten in het monster kan detecteren. De constante kleurtemperatuur van LED-verlichting zorgt ervoor dat u monsters altijd in dezelfde kleur kunt zien.

(2) Controleer monsters in het laboratorium

Werken in een laboratorium betekent langdurig gebruik van een microscoop. Het rechtopstaande ergonomische ontwerp van de Leica DM2700 M metallografische microscoop helpt spierspanning en vermoeidheid te voorkomen, waardoor het dagelijkse werk zo comfortabel en moeiteloos mogelijk wordt. De intuïtieve bediening van een microscoop zorgt ervoor dat zelfs de meest ongeschoolde mensen deze soepeler kunnen gebruiken. De codec biedt begeleiding tijdens de bediening door de gebruiker om het risico op fouten te verkleinen.

(3) Zeef het oppervlak bij staalinspectie

De werkomgeving voor industriële kwaliteitscontrole en defectinspectie is altijd uitdagend. De sterke steunen en het robuuste ontwerp van de Leica DM2.700M maken hem geschikt voor de meest uiteenlopende werkomgevingen.