Para los componentes de zafiro recubiertos utilizados en aplicaciones ópticas y de precisión, la sección transversal metalográfica suele emplearse para evaluar el espesor del recubrimiento y de la capa de tinta, la calidad de la interfaz y la integridad general.
El desafío es la preparación.
Los recubrimientos finos pueden sufrir fácilmente astillamiento en los bordes, delaminación, desprendimiento o redondeamiento durante el corte y el pulido, lo que dificulta medir con precisión la sección transversal final.
Para esta muestra, utilizamos un corte de precisión a baja velocidad y montaje en frío para minimizar los daños mecánicos y térmicos, seguido de un proceso gradual de rectificado y pulido:
• Disco de diamante DiaRe P400 para el rectificado inicial
• Disco de rectificado fino POS + suspensión de diamante policristalino PD-WT de 9 μm
• Paño de pulido blanco SC + suspensión de diamante policristalino PD-WT de 3 μm
• Paño de pulido blanco SC + suspensión de diamante policristalino PD-WT de 1 μm para el pulido fino
Para muestras recubiertas como esta, una superficie bien acabada no basta; preservar el verdadero borde del recubrimiento es lo que garantiza la fiabilidad de la medición del espesor.
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