Optik ve hassas uygulamalarda kullanılan kaplanmış safir bileşenler için, kaplama ve mürekkep katmanının kalınlığını, arayüzün kalitesini ve genel bütünlüğü değerlendirmek amacıyla metalografik kesit analizi sıkça kullanılır.
Zorluk hazırlıktır.
İnce kaplamalar, kesme ve cilalama sırasında kenar çatlaması, delaminasyon, kopma veya yuvarlanma gibi sorunlara kolayca maruz kalabilir; bu da nihai kesitin doğru şekilde ölçülememesine yol açar.
Bu numune için, mekanik ve termal hasarı en aza indirmek amacıyla hassas düşük hızda kesim ve soğuk montaj yöntemlerini kullandık; ardından kademeli taşlama ve cilalama sürecini uyguladık:
• İlk aşamada taşlama için DiaRe P400 elmas taşlama diski
• POS ince taşlama diski + 9 μm PD-WT polikristal elmas süspansiyonu
• SC beyaz ipek cilalama bezi + 3 μm PD-WT polikristalin elmas süspansiyonu
• İnce cilalama için SC beyaz ipek cilalama bezi + 1 μm PD-WT polikristalin elmas süspansiyonu
Buna benzer kaplanmış numunelerde, yalnızca iyi bir yüzey yeterli değildir; kalınlığın güvenilir ölçülebilmesini sağlayan, asıl kaplama kenarının korunmasıdır.
#Metalografi #Safir #KaplamaAnalizi #KesitAnalizi #NumuneHazırlığı #OptikMalzemeler
