Pour les composants en saphir revêtus utilisés dans des applications optiques et de précision, la section métallographique est souvent employée afin d’évaluer l’épaisseur du revêtement et de la couche d’encre, la qualité de l’interface ainsi que l’intégrité globale.
Le défi, c’est la préparation.
Les couches minces peuvent facilement subir des éclats aux bords, des délaminations, des arrachements ou des arrondissements lors de la découpe et du polissage, rendant difficile la mesure précise de la section finale.
Pour cet échantillon, nous avons utilisé une section à vitesse réduite et un montage à froid afin de minimiser les dommages mécaniques et thermiques, suivi d’un processus progressif de meulage et de polissage :
• Disque de meulage diamant DiaRe P400 pour le meulage initial
• Disque de meulage fin POS + suspension de diamant polycristallin PD-WT à 9 μm
• Chiffon de polissage en soie blanche SC + suspension de diamant polycristallin PD-WT à 3 μm
• Chiffon de polissage en soie blanche SC + suspension de diamant polycristallin PD-WT à 1 μm pour le polissage fin
Pour des échantillons revêtus comme celui-ci, une bonne surface ne suffit pas — c’est la préservation du véritable bord du revêtement qui garantit la fiabilité de la mesure d’épaisseur.
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