Per i componenti in zaffiro rivestiti utilizzati in applicazioni ottiche e di precisione, la sezione metallografica viene spesso impiegata per valutare lo spessore del rivestimento e dello strato d’inchiostro, la qualità dell’interfaccia e l’integrità complessiva.

La sfida è la preparazione.
I rivestimenti sottili possono facilmente subire scheggiature ai bordi, delaminazione, distacco o arrotondamento durante il taglio e la lucidatura, rendendo difficile misurare con precisione la sezione finale.

Per questo campione, abbiamo utilizzato una sezione di precisione a bassa velocità e un montaggio a freddo per ridurre al minimo i danni meccanici e termici, seguiti da un processo graduale di rettifica e lucidatura:

• Disco diamantato DiaRe P400 per la prima fase di rettifica

• Disco di levigatura fine POS + sospensione di diamante policristallino PD-WT da 9 μm

• Panno bianco di seta SC + sospensione di diamante policristallino PD-WT da 3 μm

• Panno bianco di seta SC + sospensione di diamante policristallino PD-WT da 1 μm per la lucidatura fine

Per campioni rivestiti come questo, una superficie ben rifinita non è sufficiente: preservare il vero margine del rivestimento è ciò che rende affidabile la misurazione dello spessore.

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